透射電鏡力電原位系統(tǒng)是一種集成力學(xué)加載、電學(xué)測試與透射電鏡高分辨成像的原位表征設(shè)備，核心是在透射電鏡樣品桿中加裝掃描探針、力傳感器和電學(xué)測試單元，可同步獲取材料原子尺度微觀結(jié)構(gòu)與力電性能數(shù)據(jù)，廣泛應(yīng)用于納米材料、新能源材料等領(lǐng)域的微觀構(gòu)效關(guān)系研究。

　　透射電鏡力電原位系統(tǒng)主要由以下幾部分構(gòu)成：

　　原位力-電樣品桿：作為核心部件，樣品桿內(nèi)置MEMS芯片，實現(xiàn)力、電復(fù)合多場自動控制及反饋測量。其設(shè)計需滿足透射電鏡的腔體空間限制，同時確保機(jī)械穩(wěn)定性高、電磁屏蔽性能良好，以避免對成像光路形成干擾。

　　MEMS力學(xué)加電芯片：采用微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù)加工，實現(xiàn)電場和力學(xué)加載的獨(dú)立控制。芯片設(shè)計需兼顧高精度力學(xué)加載與電學(xué)信號傳輸。

　　力學(xué)-溫度控制系統(tǒng)：支持高溫條件下的動態(tài)力學(xué)性能測試，滿足極*工況下的原位表征需求。

　　電學(xué)控制器：集成電流電壓測試單元，支持自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量，并具備數(shù)據(jù)自動保存功能。電壓輸出范圍涵蓋普通模式±10V與高壓模式±150V，以適應(yīng)不同實驗需求。

　　納米探針操縱系統(tǒng)：通過壓電陶瓷驅(qū)動實現(xiàn)探針的高精度操縱，確保探針移動平穩(wěn)，實現(xiàn)高分辨原位觀察實驗。

　　附件包與針尖制備系統(tǒng)：提供實驗所需的輔助工具與針尖制備設(shè)備，確保實驗流程的完整性與便捷性。