當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 樣品臺 > Gravity Series In-Situ Holders > 透射電鏡力電原位系統(tǒng)
簡要描述：透射電鏡力電原位系統(tǒng)通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建力、電復(fù)合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場、施加力變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2023-12-27訪 問 量： 2707產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
力學(xué)性能
1．高精度壓電陶瓷驅(qū)動，納米級別精度數(shù)字化精確定位。
2．可進行壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學(xué)性能測試。
3．nN級力學(xué)測量噪音。
4．具備連續(xù)的載荷-位移-時間數(shù)據(jù)實時自動收集功能。
5．具備恒定載荷、恒定位移、循環(huán)加載控制功能，適用于材料的蠕變特性、應(yīng)力松弛、疲勞性能研究。
優(yōu)異的電學(xué)性能
1．芯片表面的保護性涂層保證電學(xué)測量的低噪音和精確性，電流測量精度可達皮安級。
2．MEMS微加工特殊設(shè)計，電場和力學(xué)加載同時進行，相互獨立控制。
智能化軟件
1．人機分離，軟件遠程控制納米探針運動。
2．自動測量載荷-位移數(shù)據(jù)。
| 類別 | 項目 | 參數(shù) |
| 基本參數(shù) | 桿身材質(zhì) | 高強度鈦合金 |
| 控制方式 | 高精度壓電陶瓷 | |
| 傾轉(zhuǎn)角 | α≥±20°，傾轉(zhuǎn)分辨率＜0.1°（實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號） | |
| 適用電鏡 | Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi | |
| 適用極靴 | ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP 適用極靴 | |
| (HR)TEM/STEM | 支持 | |
| (HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
鎢納米柱原位力學(xué)壓縮過程
鎢納米柱受力發(fā)生彈性形變過程中，彈性形變和塑性形變過程強度和塑性是結(jié)構(gòu)材料應(yīng)用的關(guān)鍵特征，位錯在調(diào)控材料強度和塑性的過程中扮演了重要角色，一般來說，位錯滑移越難，材料的強度就越大，而第二相常用來阻礙位錯運動以提高材料強度。例如，陶瓷相可以用于金屬強化，因為基體與第二相之間彈性模量的巨大差異和嚴(yán)重的界面失配能夠起到金屬材料強化的作用，遺憾的是硬的第二相一般是在犧牲延展性的條件下實現(xiàn)了強化作用。此外，界面處嚴(yán)重的位錯塞積可能會導(dǎo)致局部的應(yīng)力集中，導(dǎo)致材料在服役過程中突然失效。從本質(zhì)上講，既需要第二相阻止位錯的運動，還要一定程度上兼容位錯滑移的可塑性。通過原位力學(xué)測試，可以更方便研究材料界面應(yīng)變場變化以達到優(yōu)化復(fù)合材料的強度和塑性的目的。
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